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郵箱：1932151337@qq.com
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X射線熒光鍍層測厚儀|華高百科
- 更新日期：2024-12-06
- 訪問次數(shù)：2451?
X射線熒光鍍層測厚儀UX-700：本著對插接件等細(xì)小結(jié)構(gòu)件的單鍍層和多鍍層厚度的測量，Ux-700更專業(yè)小樣品測試腔的設(shè)計(jì)，帶有聚焦光點(diǎn)的準(zhǔn)直器，高分辨率的探測系統(tǒng)，眾多Z佳條件的選擇，保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用，提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件，無損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn)，對在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗(yàn)的保障。
X射線熒光鍍層測厚儀UX-700華唯
| 配置型號 | 探測器 | X光管 | 高壓電源 |
| Ux-700 M | AMPTEK Si-PIN X-123(進(jìn)口) | 上?？祁U維（國產(chǎn)） | 咸陽威思曼(國產(chǎn)) |
| Ux-700 H | AMPTEK Si-PIN X-123(進(jìn)口) | 上海科頤維（國產(chǎn)） | spellman(進(jìn)口) |
| Ux-700 S | AMPTEK SDD X-123(進(jìn)口) | 上?？祁U維（國產(chǎn)） | spellman(進(jìn)口 |
X射線熒光鍍層測厚儀UX-700產(chǎn)品指標(biāo)：
測厚技術(shù)：X射線熒光測厚技術(shù)
測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層
測量下限：0.003um
測量上限：30-50um(以材料元素判定)
測量層數(shù)：10層
測量用時：30-120秒
探測器類型：Si-PIN電制冷
探測器分辨率：149eV
高壓范圍：5-50Kv，50W
X光管參數(shù)：5-50Kv，50W，側(cè)窗類；
光管靶材：Mo靶；
濾光片：鍍層濾光片
CCD觀察：260萬像素
微移動范圍：XY15mm
輸入電壓：AC220V，50/60Hz
測試環(huán)境：非真空條件
數(shù)據(jù)通訊：USB2.0模式
準(zhǔn)直器：Ø0.5mm
軟件方法：FlexFP-Mult
工作區(qū)：開放工作區(qū) 自定義
樣品腔：70*20mm
整機(jī)重量：38kg
UX-700產(chǎn)品介紹：
本著對插接件等細(xì)小結(jié)構(gòu)件的單鍍層和多鍍層厚度的測量，Ux-700更專業(yè)小樣品測試腔的設(shè)計(jì)，帶有聚焦光點(diǎn)的準(zhǔn)直器，高分辨率的探測系統(tǒng)，眾多*條件的選擇，保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用，提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件，無損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn)，對在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗(yàn)的保障。
Ux-700鍍層測厚儀配備了XY軸微移動平臺，可以通過鼠標(biāo)的點(diǎn)擊操作，選擇樣品的多點(diǎn)測試，特別適應(yīng)于細(xì)小結(jié)構(gòu)多種不同鍍層材料的測試。
Ux-700鍍層測厚儀具有高清晰、高放大倍數(shù)的攝像設(shè)備，測試樣品的部位清楚明了，同時攝像設(shè)備拍抓測試部位的圖片，和測試數(shù)據(jù)結(jié)果一同出現(xiàn)在測試報告中。
Ux-700鍍層測厚儀采用了華唯技術(shù)FlexFp -Multi，不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制，在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度。
UX-700 鍍層測厚方法：
1.磁性涂層測厚法
使用磁性測厚法可測鐵、鋼導(dǎo)磁金屬上面的所有非導(dǎo)磁金屬和所有非導(dǎo)電層的厚度，如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等，涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。
2.渦流層層測厚法
可以測量非導(dǎo)磁導(dǎo)電金屬上面非導(dǎo)電涂層的厚度，如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度
3.X射線熒光法
所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測試，同時可以測試鍍層材料的合金成分含量比例。
常用單位：
微米(um)，微英寸(u‘’)俗語“邁”，密耳(mil)
1um=39.4邁， 1um=0.04mil