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X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720：Ux-720新一代國產專業(yè)鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結果業(yè)界*。 采用了FlexFP-Multi技術，無論是生產過程中的質量控制，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。

X射線熒光鍍層測厚儀測量元素范圍：鈦Ti22---鈾U92； 測量5層（4層鍍層+底材層）鍍層，同時分析15種元素，自動修正X射線重疊譜線； 測量精度高、穩(wěn)定性好，測量結果*確至μin； 快速無損測量，測量時間短，10秒內得出測量結果； 可分析固體、溶液；定性、半定量和定量分析； 進行貴金屬檢測。

日本島津超聲波光學金屬表面探傷儀 島津的光學成像技術，將超聲波振子和頻閃觀測器相結合，在試樣表面使用超聲波振蕩器振動，表面因超聲波傳輸受到的微小位移用激光照射和光學相機實現可視化，從而根據超聲波的間斷來檢測出缺陷。超聲波光學探傷裝置MIV-X可以使傳統(tǒng)超聲檢測難以發(fā)現的內部缺陷可視化。

X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720：Ux-720新一代國產專業(yè)鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結果業(yè)界。 采用了FlexFP-Multi技術，無論是生產過程中的質量控制，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。

TREK重錘式表面電阻測試儀 無損檢測儀 Trek-152-1 表面電阻測試儀是用來測量各種傳導、損耗、絕緣的面電阻

X射線熒光鍍層測厚儀品牌：本著對插接件等細小結構件的單鍍層和多鍍層厚度的測量，Ux-700更專業(yè)小樣品測試腔的設計，帶有聚焦光點的準直器，高分辨率的探測系統(tǒng)，眾多Z佳條件的選擇，保證測試結果的準確性。X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用，提高了大批量生產電鍍產品的檢驗條件，無損、快速和更準確的特點，對在電子和半導體工業(yè)中品質的提升有了檢驗的保障。