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X射線熒光鍍層測厚儀|技術(shù)百科
更新時(shí)間：2023-05-04 點(diǎn)擊次數(shù)：806次
X射線熒光鍍層測厚儀可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析。濾光片程控交換系統(tǒng)根據(jù)靶材，標(biāo)準(zhǔn)裝備有相應(yīng)的一次X射線濾光片系統(tǒng)二次X射線濾光片：3個(gè)位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選位置傳感器保護(hù)裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口。
熒光強(qiáng)度是元素原子序數(shù)的函數(shù)，如果表面覆蓋層、中間覆蓋層（如果存在）以及基體是由不同元素組成或一個(gè)覆蓋層由不止一個(gè)元素組成，則這些元素會(huì)產(chǎn)生各自的輻射特征?？烧{(diào)節(jié)適當(dāng)?shù)臋z測器系統(tǒng)以選擇一個(gè)或多個(gè)能帶，使此設(shè)備既能測量表面覆蓋層又能同時(shí)測量表面覆蓋層和一些中間覆蓋層的厚度和組成。
X射線熒光鍍層測厚儀溫濕度要求
1.正常工作的溫度范圍溫度范圍為18-25℃。要求室溫比較穩(wěn)定。
2.相對濕度小于98%，無冷凝，40-60%之間，一般都能正常工作。
3.如濕度比較大，而且儀器需要關(guān)機(jī)較長時(shí)間，建議再開機(jī)時(shí)先打開儀器電源，但不要立即進(jìn)入軟件，等機(jī)內(nèi)濕氣排除后再進(jìn)入軟件。
X射線鍍層測厚儀是基于X射線熒光技術(shù)，該技術(shù)已經(jīng)被證實(shí)并且得到廣泛應(yīng)用，可以在無須樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。它能分析固體和液體，元素范a圍包括從元素周期表中的Ti22到U92，并且具有不同大小的樣品艙。
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