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　　X射線熒光光譜分析儀可以放出X射線對(duì)試樣進(jìn)行照射，使試樣被激發(fā)出各種波長的熒光X射線，再將混合的X射線按波長分開，分別測(cè)量不同波長的X射線的強(qiáng)度，從而進(jìn)行定性和定量分析。X射線熒光光譜分析儀對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品的基本要求如下：

 

　　（1）組成標(biāo)準(zhǔn)樣品的元素種類與未知樣相似，是相同的；

 

　　（2）標(biāo)準(zhǔn)樣品中所有組分的含量必須已知；

 

　　（3）標(biāo)準(zhǔn)樣品中被測(cè)元素的含量范圍要包含未知樣中所有的被測(cè)元素；

 

　?。?）標(biāo)準(zhǔn)樣品的狀態(tài)（如粉末樣品的顆粒度、固體樣品的表面光潔度以及被測(cè)元素的化學(xué)態(tài)等）應(yīng)和未知樣一致，或能夠經(jīng)適當(dāng)?shù)姆椒ㄌ幚沓梢恢隆?/div>

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